Rigorous investigation of RF breakdown effects in high power microstrip passive circuits

  1. Perez Soler, F.J.
  2. Anza, S.
  3. Mattes, M.
  4. Espana, C.M.
  5. Quesada, F.
  6. Jimenez, M.
  7. Gil, J.
  8. Vicente, C.
  9. Mosig, J.R.
  10. Raboso, D.
  11. Boria, V.E.
  12. Gimeno, B.
  13. Alvarez-Melcon, A.
Konferenzberichte:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest

ISSN: 0149-645X

ISBN: 9781424428045

Datum der Publikation: 2009

Seiten: 833-836

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/MWSYM.2009.5165826 GOOGLE SCHOLAR