Analysis of the power outage effects in RFID
- Vales-Alonso, J.
- Muñoz-Gea, J.P.
- Alcaraz, J.J.
- González-Castaño, F.J.
ISSN: 1089-7798
Datum der Publikation: 2017
Ausgabe: 21
Nummer: 2
Seiten: 306-309
Art: Artikel
Zeitschrift:
IEEE Communications Letters