Characterization of thin silicon overlayers on rutile TiO2 (110 ) - (1×1 )
- Abad, J.
- Gonzalez, C.
- De Andres, P.L.
- Roman, E.
ISSN: 1098-0121, 1550-235X
Any de publicació: 2010
Volum: 82
Número: 16
Tipus: Article
Revista:
Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics