S-parameter broad-band measurements on-microstrip and fast extraction of the substrate intrinsic properties

  1. Hinojosa, J.
Revista:
IEEE Microwave and Wireless Components Letters

ISSN: 1531-1309

Año de publicación: 2001

Volumen: 11

Número: 7

Páginas: 305-307

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/7260.933779 GOOGLE SCHOLAR
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