Coaxial to waveguide transitions and device under test characterization by means of inverse techniques

  1. Lozano-Guerrero, A.J.
  2. Monzó-Cabrera, J.
  3. Clemente-Fernández, F.J.
  4. Pedreño-Molina, J.L.
  5. Díaz-Morcillo, A.
Revista:
Microwave and Optical Technology Letters

ISSN: 0895-2477 1098-2760

Ano de publicación: 2010

Volume: 52

Número: 6

Páxinas: 1294-1297

Tipo: Artigo

DOI: 10.1002/MOP.25159 GOOGLE SCHOLAR

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