Computing topological indices of Sio2 layer structure and benzenoid series
- Muhammad, M.H.
- Guirao, J.L.G.
- Rehman, N.A.
- Siddiqui, M.K.
ISSN: 0327-0793
Año de publicación: 2019
Volumen: 49
Número: 4
Páginas: 219-224
Tipo: Artículo
Revista:
Latin American Applied Research