Diseño de un atpg para circuitos secuenciales asíncronos mediante un método algebraico

Resumen

Se presenta la extensión de un método algebraico-booleano de generación de patrones de test para circuitos booleanos que permite su aplicación al tests de circuitos secuenciales asíncronos. Para ello se empleó una técnica de estructura combinacional iterativa y se extendieron los procedimientos fundamentales del algoritmo combinacional de referencia, tales como los procedimientos tabulares de resolución de ecuaciones booleanas para su ejecución más eficiente. En ese proceso de extensión se ha tenido en cuenta la dependencia de las secuencias de vectores con respecto al tiempo, además de la extensión de los procedimientos modularizados en puntos de fan-out. Las secuencias de entradas se determinan a través de un procedimiento iterativo de justificación de niveles de tiempo inverso, en los que hay un encadenamiento entre la parte combinacional del término. Este encadenamiento se resuelve en el nivel de tiempo actual, y la parte secuencial, que se justifica en un sucesivo nivel, donde se analiza similarmente en parte combinacional y secuencial iterativamente. Se introduce como mecanismo de obtención de solución y para evitar análisis en lazos infinitos, la eliminación de las variables de estados iterativas y de la variable con falta. Esta última como iterativa en el paso de sensibilización y por reglas de paridad de inversión en el paso de propagación. El algoritmo ejecuta los pasos algebraicos de sensibilización y de propagación, resolviendo las ecuaciones tabularmente, y el paso de test como la intersección tabular de soluciones de cubos de sensibilización y propagación. Se establecen categorías de prioridad en la obtención de los tests en un análisis de selección de soluciones. Como culminación, se implementó el ATPG llamado TESEA.