Sensibilidad del muestreo espacial frente a especificaciones en el problema de diseño
- Bueso Sánchez, María del Carmen
- Angulo Ibáñez, José Miguel
- Alonso Morales, Francisco Javier
- Ruiz Medina, María Dolores
Editorial: Jaén : Universidad de Jaén, 2001
ISBN: 84-8439-080-2
Año de publicación: 2001
Congreso: Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa (26. 2001. Úbeda)
Tipo: Aportación congreso
Resumen
En el estudio de un proceso espacial, no directamente observable, en una región de interés especificada mediante un número finito de localizaciones, se considera la información muestral obtenida al observar otro proceso espacial relacionado sobre una determinada región continua. Para diferentes niveles de discretización de esta región se comparan los resultados de los diseños de muestreo obtenidos según distintas formas de dependencia espacial, adoptando como criterio de selección la maximización de la cantidad de información de Shannon que las variables a observar contendrán con respecto a las variables de interés