A virtual instrument design for low-cost charge-pumping characterization of integrated MOSFETs

  1. Hernández, J.
  2. Castrillón, J.
  3. Jiménez, M.
  4. De La Torre, A.
  5. Escalona, P.
  6. Palomera, R.
Actas:
2015 16th Latin-American Test Symposium, LATS 2015

ISBN: 9781467367103

Año de publicación: 2015

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/LATW.2015.7102499 GOOGLE SCHOLAR
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