SISTEMA PARA CARACTERIZACIÓN ELECTROMAGNÉTICA DE MATERIALES

    Inventors/es:
  1. Juan Hinojosa Jiménez
  2. Felix Lorenzo Martínez Viviente
  3. Alejandro Melcón Álvarez
  1. Universidad Politécnica de Cartagena
    info

    Universidad Politécnica de Cartagena

    Cartagena, España

ES
Publicación principal:

ES2611553A1 (09-05-2017)

Otras Publicaciones:

ES2611553B2 (09-01-2018)

Solicitudes:

P201630964 (14-07-2016)

Imagen de la patente

Resum

Sistema para la caracterización electromagnética de materiales isótropos y anisótropos de forma no-destructiva que comprende un sensor (S1) de tipo microstrip o coplanar en circuito abierto, y un equipo de medidas (EM) para medidas en reflexión en función de la frecuencia.

El sensor (S1) contacta por uno de sus extremos con la superficie del material (M) a caracterizar y por el otro se conecta a la unidad de medidas (EM) mediante una guía de transmisión (G1) y dos transiciones: (T1) realiza la transición entre el sensor (S1) y la guía de transmisión (G1) y (T2) efectúa la transición entre la guía de transmisión (G1) y el equipo de medidas (EM).

Se prevé un segundo sensor (S2) colocado a 90º respecto al primer sensor (S1) para caracterizar materiales anisótropos uniaxiales.

Se prevé un tercer sensor (S3), estando los tres sensores orientados en un sistema de coordenadas (x, y, z) para caracterizar materiales anisótropos biaxiales.

INVENES: P201630964