Analysis of the power outage effects in RFID

  1. Vales-Alonso, J.
  2. Muñoz-Gea, J.P.
  3. Alcaraz, J.J.
  4. González-Castaño, F.J.
Revista:
IEEE Communications Letters

ISSN: 1089-7798

Año de publicación: 2017

Volumen: 21

Número: 2

Páginas: 306-309

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/LCOMM.2016.2622258 GOOGLE SCHOLAR
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