Analysis of Tag Loss Ratio in dynamic RFID systems

  1. Vales-Alonso, J.
  2. Egea-López, E.
  3. Bueno Delgado, M.V.
  4. Alcaraz-Espin, J.J.
Revista:
International Journal of RF Technologies: Research and Applications

ISSN: 1754-5730 1754-5749

Any de publicació: 2010

Volum: 2

Número: 2

Pàgines: 135-154

Tipus: Article

DOI: 10.3233/RFT-2010-005 GOOGLE SCHOLAR