Analysis of Tag Loss Ratio in dynamic RFID systems

  1. Vales-Alonso, J.
  2. Egea-López, E.
  3. Bueno Delgado, M.V.
  4. Alcaraz-Espin, J.J.
Aldizkaria:
International Journal of RF Technologies: Research and Applications

ISSN: 1754-5730,  1754-5749

Argitalpen urtea: 2010

Alea: 2

Zenbakia: 2

Orrialdeak: 135-154

Mota: Artikulua

DOI: 10.3233/RFT-2010-005 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus