Thermal frequency noise in dynamic scanning force microscopy
- Colchero, J.
- Cuenca, M.
- Martínez, J.F.G.
- Abad, J.
- García, B.P.
- Palacios-Lidón, E.
- Abellán, J.
Revue:
Journal of Applied Physics
ISSN: 0021-8979
Année de publication: 2011
Volumen: 109
Número: 2
Type: Article