Evaluating the JEDEC standard JEP173, dynamic RDSon test method for GaN HEMTs
- Bernal, C.
- Jimenez, M.
- Andrade, F.
ISSN: 0271-4310
ISBN: 9781728133201
Any de publicació: 2020
2020 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, ISCAS 2020 - Proceedings
Volum: 2020-October
Tipus: Aportació congrés