Automated wafer-level measurement of LDMOS reverse recovery parameters

  1. Rodríguez Latorre, J.A.
  2. Jiménez, M.A.
  3. Palomera, R.
Actes:
Midwest Symposium on Circuits and Systems

ISSN: 1548-3746

ISBN: 9781467325264

Any de publicació: 2012

2012 IEEE 55th International Midwest Symposium on Circuits and Systems, MWSCAS 2012

Pàgines: 1072-1075

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/MWSCAS.2012.6292209 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus