Permittivity characterization from open-end microstrip line measurements

  1. Hinojosa, J.
Aldizkaria:
Microwave and Optical Technology Letters

ISSN: 0895-2477

Argitalpen urtea: 2007

Alea: 49

Zenbakia: 6

Orrialdeak: 1371-1374

Mota: Artikulua

DOI: 10.1002/MOP.22410 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus