Permittivity characterization from open-end microstrip line measurements

  1. Hinojosa, J.
Revista:
Microwave and Optical Technology Letters

ISSN: 0895-2477

Ano de publicación: 2007

Volume: 49

Número: 6

Páxinas: 1371-1374

Tipo: Artigo

DOI: 10.1002/MOP.22410 GOOGLE SCHOLAR