Fixed Pattern Noise Analysis for Feature Descriptors in CMOS APS Images

  1. Zapata-Pérez, J.
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Revue:
Sensing and Imaging

ISSN: 1557-2072,  1557-2064

Année de publication: 2020

Volumen: 21

Número: 1

Type: Article

DOI: 10.1007/S11220-020-0278-3 GOOGLE SCHOLAR
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