Fixed Pattern Noise Analysis for Feature Descriptors in CMOS APS Images

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Revista:
Sensing and Imaging

ISSN: 1557-2072,  1557-2064

Ano de publicación: 2020

Volume: 21

Número: 1

Tipo: Artigo

DOI: 10.1007/S11220-020-0278-3 GOOGLE SCHOLAR
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