Test de circuitos digitales mediante patrones de entrada generados por metodos algebraicos

  1. PEREZ TRABADO, PABLO
Dirigida per:
  1. Antonio Lloris Ruiz Director/a

Universitat de defensa: Universidad de Murcia

Any de defensa: 1995

Tribunal:
  1. Fernando Martín Rubio President/a
  2. Ramón Ruiz Merino Secretari
  3. Antonio Vigueras Campuzano Vocal
  4. Emilio López Zapata Vocal
  5. Josep Miró Nicolau Vocal

Tipus: Tesi

Teseo: 48514 DIALNET

Resum

EL TEST DE CIRCUITOS COMBINACIONALES PUEDE SER ABORDADO A TRAVES DE UNA METODOLOGIA DE SELECCION ALGORITMICA DE LOS PATRONES DE TEST A APLICAR. EL ALGORITMO TESED UTILIZA UNA REPRESENTACION ALGEBRAICA DEL CIRCUITO Y SU COMPORTAMIENTO PARA GENERAR ECUACIONES BOOLEANAS CUYA SOLUCION SON LOS VECTORES DE SENSIBILIZACION Y PROPAGACION PARA UNA FALTA DE ANCLAJE DADA; LA INTERSECCION DE ESTOS CONJUNTOS DE VECTORES DE TEST BUSCADOS. LA ECUACION DE PROPAGACION TIENE EN CUENTA, MEDIANTE LA JUSTIFICACION DE PARIDADES, EL EFECTO DE FAN-OUT RECONVERGENTE EN LA PROPAGACION DEL EFECTO DE LA FALTA. PARA LA RESOLUCION DE LAS ECUACIONES BOOLEANAS SE HA DESARROLLADO UN NUEVO METODO, BASADO EN UNA REPRESENTACION TABULAR DE CONJUNTOS DE VECTORES Y SE DEMUESTRA QUE ES POSIBLE DOTAR A ESTA REPRESENTACION TABULAR DE ESTRUCTURA DE ALGEBRA DE BOOLE.