Test de circuitos digitales mediante patrones de entrada generados por metodos algebraicos
- PEREZ TRABADO, PABLO
- Antonio Lloris Ruiz Director
Universidade de defensa: Universidad de Murcia
Ano de defensa: 1995
- Fernando Martín Rubio Presidente/a
- Ramón Ruiz Merino Secretario
- Antonio Vigueras Campuzano Vogal
- Emilio López Zapata Vogal
- Josep Miró Nicolau Vogal
Tipo: Tese
Resumo
EL TEST DE CIRCUITOS COMBINACIONALES PUEDE SER ABORDADO A TRAVES DE UNA METODOLOGIA DE SELECCION ALGORITMICA DE LOS PATRONES DE TEST A APLICAR. EL ALGORITMO TESED UTILIZA UNA REPRESENTACION ALGEBRAICA DEL CIRCUITO Y SU COMPORTAMIENTO PARA GENERAR ECUACIONES BOOLEANAS CUYA SOLUCION SON LOS VECTORES DE SENSIBILIZACION Y PROPAGACION PARA UNA FALTA DE ANCLAJE DADA; LA INTERSECCION DE ESTOS CONJUNTOS DE VECTORES DE TEST BUSCADOS. LA ECUACION DE PROPAGACION TIENE EN CUENTA, MEDIANTE LA JUSTIFICACION DE PARIDADES, EL EFECTO DE FAN-OUT RECONVERGENTE EN LA PROPAGACION DEL EFECTO DE LA FALTA. PARA LA RESOLUCION DE LAS ECUACIONES BOOLEANAS SE HA DESARROLLADO UN NUEVO METODO, BASADO EN UNA REPRESENTACION TABULAR DE CONJUNTOS DE VECTORES Y SE DEMUESTRA QUE ES POSIBLE DOTAR A ESTA REPRESENTACION TABULAR DE ESTRUCTURA DE ALGEBRA DE BOOLE.