Five hole probe errors caused by fluctuating incidence

  1. Coull, J.
  2. Dickens, T.
  3. Ng, H.
  4. Serna, J.
Konferenzberichte:
E3S Web of Conferences

ISSN: 2267-1242,  2555-0403

Datum der Publikation: 2022

Ausgabe: 345

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1051/E3SCONF/202234501006 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor
Datenquelle: Scopus