Automated wafer-level measurement of LDMOS reverse recovery parameters

  1. Rodríguez Latorre, J.A.
  2. Jiménez, M.A.
  3. Palomera, R.
Actas:
Midwest Symposium on Circuits and Systems

ISSN: 1548-3746

ISBN: 9781467325264

Año de publicación: 2012

2012 IEEE 55th International Midwest Symposium on Circuits and Systems, MWSCAS 2012

Páginas: 1072-1075

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/MWSCAS.2012.6292209 GOOGLE SCHOLAR
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