Defect structure of SiNx:H films and its evolution with annealing temperature
- Martínez, F.L.
- Del Prado, A.
- Mártil, I.
- Bravo, D.
- López, F.J.
ISSN: 0021-8979
Datum der Publikation: 2000
Ausgabe: 88
Nummer: 4
Seiten: 2149-2151
Art: Artikel
ISSN: 0021-8979
Datum der Publikation: 2000
Ausgabe: 88
Nummer: 4
Seiten: 2149-2151
Art: Artikel