Grain boundary potential determination in polycrystalline silicon by the scanning light spot technique

  1. Martinez, J.
  2. Criado, A.
  3. Piqueras, J.
Zeitschrift:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Datum der Publikation: 1981

Ausgabe: 52

Nummer: 3

Seiten: 1301-1305

Art: Artikel

DOI: 10.1063/1.329755 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus