Grain boundary potential determination in polycrystalline silicon by the scanning light spot technique

  1. Martinez, J.
  2. Criado, A.
  3. Piqueras, J.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Ano de publicación: 1981

Volume: 52

Número: 3

Páxinas: 1301-1305

Tipo: Artigo

DOI: 10.1063/1.329755 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus