Grain boundary potential determination in polycrystalline silicon by the scanning light spot technique

  1. Martinez, J.
  2. Criado, A.
  3. Piqueras, J.
Aldizkaria:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Argitalpen urtea: 1981

Alea: 52

Zenbakia: 3

Orrialdeak: 1301-1305

Mota: Artikulua

DOI: 10.1063/1.329755 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus