Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid -ko ikertzaileekin lankidetzan egindako argitalpenak (1)

1995

  1. Amorphous SiC layers deposited by electron cyclotron resonance plasma: spectroscopic ellipsometric measurements

    Journal of Non-Crystalline Solids, Vol. 191, Núm. 1-2, pp. 164-173