Grain boundary potential determination in polycrystalline silicon by the scanning light spot technique

  1. Martinez, J.
  2. Criado, A.
  3. Piqueras, J.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 1981

Volumen: 52

Número: 3

Páginas: 1301-1305

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.329755 GOOGLE SCHOLAR
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