S-parameter broadband measurements of microstrip lines and extraction of the substrate intrinsic properties

  1. Hinojosa, J.
  2. Faucon, L.
  3. Queffelec, P.
  4. Huret, F.
Revista:
Microwave and Optical Technology Letters

ISSN: 0895-2477

Any de publicació: 2001

Volum: 30

Número: 1

Pàgines: 65-69

Tipus: Article

DOI: 10.1002/MOP.1222 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus