S-parameter broadband measurements of microstrip lines and extraction of the substrate intrinsic properties

  1. Hinojosa, J.
  2. Faucon, L.
  3. Queffelec, P.
  4. Huret, F.
Aldizkaria:
Microwave and Optical Technology Letters

ISSN: 0895-2477

Argitalpen urtea: 2001

Alea: 30

Zenbakia: 1

Orrialdeak: 65-69

Mota: Artikulua

DOI: 10.1002/MOP.1222 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus