S-parameter broadband measurements of microstrip lines and extraction of the substrate intrinsic properties

  1. Hinojosa, J.
  2. Faucon, L.
  3. Queffelec, P.
  4. Huret, F.
Revista:
Microwave and Optical Technology Letters

ISSN: 0895-2477

Ano de publicación: 2001

Volume: 30

Número: 1

Páxinas: 65-69

Tipo: Artigo

DOI: 10.1002/MOP.1222 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus