S-parameter broadband measurements of microstrip lines and extraction of the substrate intrinsic properties

  1. Hinojosa, J.
  2. Faucon, L.
  3. Queffelec, P.
  4. Huret, F.
Zeitschrift:
Microwave and Optical Technology Letters

ISSN: 0895-2477

Datum der Publikation: 2001

Ausgabe: 30

Nummer: 1

Seiten: 65-69

Art: Artikel

DOI: 10.1002/MOP.1222 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus