S-parameter broadband measurements of microstrip lines and extraction of the substrate intrinsic properties

  1. Hinojosa, J.
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  3. Queffelec, P.
  4. Huret, F.
Revista:
Microwave and Optical Technology Letters

ISSN: 0895-2477

Año de publicación: 2001

Volumen: 30

Número: 1

Páginas: 65-69

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/MOP.1222 GOOGLE SCHOLAR
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